Кафедра микро- и наноэлектроники (27) Расписание

Понедельник

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Микропроцессорные системы Б17-403
10:15 — 11:50
ДОТ
Пр
Микропроцессорные системы Б17-403 Мокрецов М.О.
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Системы автоматизированного проектирования в микроэлектронике С17-402 Бутузов В.А.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Микропроцессорные системы С17-401 , С17-402 Фелицын В.А.
14:30 — 17:50
ДОТ
Лаб
Основы оптоэлектроники 3 занятия С16-401 Воронов Ю.А.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Технология СБИС Б17-403
ДОТ
Лаб
Системы автоматизированного проектирования в микроэлектронике С17-402 Бутузов В.А.

Вторник

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Микропроцессорные системы С17-103 , С17-201 , С17-301 , С17-602 Родин А.С.
ДОТ
Лаб
Теоретические основы электротехники Подгруппа 2 С18-402 Фелицын В.А. , Школьников Э.Я.
ДОТ
Пр
Высокопроизводительные системы. Дополнительные главы А18-401 Бобков С.Г. (22.09.2020 — 15.12.2020)
11:05 — 12:40
ДОТ
Лек
Надежность и радиационная стойкость микроэлектронных приборов и систем М19-482 Зебрев Г.И.
12:45 — 14:20
ДОТ
Пр
Надежность и радиационная стойкость микроэлектронных приборов и систем М19-482 Зебрев Г.И.
ДОТ
Лек
Оптоэлектроника М19-483 Бакеренков А.С.
ДОТ
Пр
Космические и телевизионные системы С16-401 , С16-402 Краснюк А.А.
ДОТ
Пр
Радиочастотная и СВЧ электроника С16-401 , С16-402 Бочаров Ю.И.
14:30 — 15:15
ДОТ
Лек
Высокопроизводительные системы М20-423 Бутузов В.А.
ДОТ
Лек
Физические основы наноэлектроники М20-423 Краснюк А.А.
14:30 — 16:05
ДОТ
Лаб
Технология интегральных микросхем и нанотехнология С17-402 Шалтаева Ю.Р. (01.09.2020 — 17.11.2020)
ДОТ
Пр
Оптоэлектроника М19-483 Бакеренков А.С.
ДОТ
Лаб
Технология и языки программирования (в микроэлектронике) С20-402 Бочаров Ю.И.
ДОТ
Лаб
Основы электроники С18-201 , С18-202 Лебедев А.А.
ДОТ
Пр
Физические основы наноэлектроники С16-401 , С16-402 Зебрев Г.И.
15:20 — 17:00
ДОТ
Пр
Высокопроизводительные системы М20-423 Бутузов В.А.
ДОТ
Пр
Физические основы наноэлектроники М20-423 Краснюк А.А.
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
Датчики на основе микро- и нанотехнологий; Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors С16-401 , С16-402 Подлепецкий Б.И.
17:55 — 18:40
ДОТ
Лаб
Датчики на основе микро- и нанотехнологий; Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors С16-401 , С16-402 Подлепецкий Б.И.
18:45 — 20:20
ДОТ
Лек
Теоретические основы технологии интегральных микросхем Б18-В73 Воронов Ю.А.
20:25 — 22:00
ДОТ
Пр
Теоретические основы технологии интегральных микросхем Б18-В73 Воронов Ю.А.

Среда

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б18-402
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б18-402
10:15 — 11:50
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б18-402
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б18-402
ДОТ
Пр
Программно-аппаратное обеспечение персональных компьютеров С18-401 , С18-402 Горбунов М.С.
ДОТ
Лаб
Надежность и радиационная стойкость интегральных схем М20-423 Зебрев Г.И.
ДОТ
Пр
Телевизионные и космические системы М19-406 , М19-416 Краснюк А.А.
ДОТ
Пр
Цифровая обработка сигналов М19-406 , М19-416 Бочаров Ю.И.
12:45 — 13:30
ДОТ
Лек
Технологии наноэлектроники М19-406 , М19-416 Шалтаева Ю.Р. (02.09.2020 — 21.10.2020)
ДОТ
Пр
Технологии наноэлектроники М19-406 , М19-416 Шалтаева Ю.Р. (28.10.2020 — 16.12.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Материаловедение М20-423 Громов Д.В. , Краснюк А.А.
ДОТ
Лек
Сенсоры и датчики в микроэлектронике М20-423 Подлепецкий Б.И.
13:35 — 15:15
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)
ДОТ
Пр
Технологии наноэлектроники М19-406 , М19-416 Шалтаева Ю.Р.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Материаловедение М20-423 Громов Д.В. , Краснюк А.А.
ДОТ
Лек
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-482 Бакеренков А.С.
ДОТ
Пр
Сенсоры и датчики в микроэлектронике М20-423 Подлепецкий Б.И.
ДОТ
Пр
Ядерная физика М20-403 Согоян А.В. , Фелицын В.А.
ДОТ
Лаб
Основы функциональной и СВЧ микроэлектроники С16-401 , С16-402 Патрикеев Л.Н.
15:20 — 17:00
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
Основы функциональной и СВЧ микроэлектроники С16-401 , С16-402 Патрикеев Л.Н.
ДОТ
Пр
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-482 Бакеренков А.С.
18:45 — 20:20
ДОТ
Пр
Технология и проектирование электронных и микроэлектронных систем (Technology and design of electronic and microelectronic systems) Б18-В73 Бакеренков А.С.
20:25 — 22:00
ДОТ
Лаб
Технология и проектирование электронных и микроэлектронных систем (Technology and design of electronic and microelectronic systems) Б18-В73 Бакеренков А.С.

Четверг

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-406 , М19-416 Бакеренков А.С. (03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-406 , М19-416 Бакеренков А.С. (01.10.2020 — 17.12.2020)
ДОТ
Лек
Микропроцессорные системы С17-103 , С17-201 , С17-301 , С17-602 Родин А.С.
09:20 — 11:00
ДОТ
Пр
Теоретическая физика: основы наноэлектроники М20-423 Зебрев Г.И.
10:15 — 11:50
ДОТ
Лаб
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-406 , М19-416 Бакеренков А.С.
11:05 — 12:40
ДОТ
Пр
Компьютерные технологии: архитектура и проектирование микропроцессорных систем М20-423 Осипенко П.Н.
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М20-403 Бакеренков А.С. (03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Лаб
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М20-403 Бакеренков А.С. (01.10.2020 — 17.12.2020)
ДОТ
Пр
Надежность и радиационная стойкость интегральных схем М19-406 , М19-416 Зебрев Г.И.
13:35 — 15:15
ДОТ
Лек
Электромагнитная совместимость М20-423 Шуренков В.В. (03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Электромагнитная совместимость М20-423 Шуренков В.В. (01.10.2020 — 17.12.2020)
14:30 — 16:05
ДОТ
Лек
Микропроцессорные системы С17-401 , С17-402 Родин А.С.
ДОТ
Пр
Общая физика (механика) С20-401 , С20-402 Жуков А.И. , Семёнова Т.А.
15:20 — 16:05
ДОТ
Пр
Электромагнитная совместимость М20-423 Шуренков В.В. (03.09.2020 — 22.10.2020)
16:15 — 17:50
ДОТ
Лаб
Проектирование интегральных микросхем С17-402 Попов В.Д.
18:45 — 19:30
ДОТ
Лек
Информационная техника Б18-В73 Петров А.С.
19:35 — 20:20
ДОТ
Пр
Информационная техника Б18-В73 Петров А.С.
20:25 — 21:10
ДОТ
Лаб
Информационная техника Б18-В73 Петров А.С.

Пятница

09:20 — 11:00
ДОТ
Пр
Технология СБИС Б17-403
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику М20-404
11:05 — 12:40
ДОТ
Пр
Интегральные СВЧ системы М19-406 , М19-416 Елесин В.В. , Чуков Г.В.
ДОТ
Пр
Электромагнитная совместимость М19-406 , М19-416 Шуренков В.В.
11:55 — 13:30
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику М20-404
12:45 — 13:30
ДОТ
Лек
Интегральные СВЧ системы М19-406 , М19-416 Елесин В.В. , Чуков Г.В. (04.09.2020 — 23.10.2020)
ДОТ
Лек
Электромагнитная совместимость М19-406 , М19-416 Шуренков В.В. (04.09.2020 — 23.10.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-483 Бакеренков А.С.
ДОТ
Лек
Технология интегральных микросхем и нанотехнология С17-402 Шалтаева Ю.Р.
12:45 — 16:05
ДОТ
Пр
Информационно- измерительные системы в микроэлектронике С16-401 , С16-402 Беляков В.В.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Технология интегральных микросхем и нанотехнология С17-402 Шалтаева Ю.Р. (04.09.2020 — 20.11.2020)
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства М20-404
ДОТ
Пр
Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-483 Бакеренков А.С.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б19-401 , Б19-402 , Б19-403
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства М20-404
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б19-401 , Б19-402 , Б19-403
ДОТ
Лек
Проектирование интегральных микросхем С17-402 Попов В.Д.
17:55 — 19:30
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б18-403
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б19-401 , Б19-402 , Б19-403
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б19-401 , Б19-402 , Б19-403
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б18-403

Суббота

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Цифровые и аналоговые интегральные микросхемы С17-402 Родин А.С.
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С18-401 , С18-402
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С18-401 , С18-402
ДОТ
Лаб
Цифровые и аналоговые интегральные микросхемы С17-402 Фелицын В.А.
11:55 — 13:30
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С18-401 , С18-402
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С18-401 , С18-402
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Физика микроэлектронных структур С17-401 , С17-402 Першенков В.С.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Физика микроэлектронных структур С17-401 , С17-402 Першенков В.С.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-401 , С15-103 , С16-103 , С16-401 , С16-402 , С17-104 , С17-401 , С17-402
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-401 , С16-401 , С16-402 , С17-401 , С17-402
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-403
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-403
17:55 — 19:30
ДОТ
Пр
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-401 , Б17-403 , Б18-403 , С15-103 , С16-103 , С16-401 , С16-402 , С17-104 , С17-401 , С17-402
ДОТ
Пр
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-401 , Б17-403 , Б18-403 , С16-401 , С16-402 , С17-401 , С17-402
19:35 — 20:20
ДОТ
Лек
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-403
ДОТ
Лек
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-403