Датчики на основе микро- и нанотехнологий; Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors
С16-401
,
С16-402
Подлепецкий Б.И.
17:55 — 18:40
ДОТ
Лаб
Датчики на основе микро- и нанотехнологий; Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors
С16-401
,
С16-402
Подлепецкий Б.И.
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства
С15-401
,
С15-402
,
С15-403
,
С15-404
,
С19-401
,
С19-402
(02.09.2020 — 16.12.2020)
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства
С15-401
,
С15-402
,
С15-403
,
С15-404
,
С19-401
,
С19-402
(02.09.2020 — 16.12.2020)
Технология и проектирование электронных и микроэлектронных систем (Technology and design of electronic and microelectronic systems)
Б18-В73
Бакеренков А.С.
20:25 — 22:00
ДОТ
Лаб
Технология и проектирование электронных и микроэлектронных систем (Technology and design of electronic and microelectronic systems)
Б18-В73
Бакеренков А.С.