Кафедра микро- и наноэлектроники (27) Расписание

Микропроцессорные системы Б17-403

Микропроцессорные системы Б17-403

Системы автоматизированного проектирования в микроэлектронике С17-402 Бутузов В.А.

Технология СБИС Б17-403

Физика микроэлектронных структур С17-401 , С17-402 Першенков В.С.

Микропроцессорные системы С17-103 , С17-201 , С17-301 , С17-602 Родин А.С.

Высокопроизводительные системы. Дополнительные главы А18-401 Бобков С.Г. (15.09.2020 — 22.12.2020)

Программно-аппаратное обеспечение персональных компьютеров С18-401 , С18-402 Горбунов М.С.

Надежность и радиационная стойкость микроэлектронных приборов и систем М19-482 Зебрев Г.И.

Оптоэлектроника М19-483 Бакеренков А.С.

Космические и телевизионные системы С16-401 , С16-402 Краснюк А.А.

Радиочастотная и СВЧ электроника С16-401 , С16-402 Бочаров Ю.И.

Высокопроизводительные системы М20-423 Бутузов В.А.

Физические основы наноэлектроники М20-423 Краснюк А.А.

Физические основы наноэлектроники С16-401 , С16-402 Зебрев Г.И.

Датчики на основе микро- и нанотехнологий; Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors С16-401 , С16-402 Подлепецкий Б.И.

Основы оптоэлектроники Б18-В73 Воронов Ю.А.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б18-402

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б18-402

Надежность и радиационная стойкость интегральных схем М20-423 Зебрев Г.И.

Телевизионные и космические системы М19-406 , М19-416 Краснюк А.А.

Цифровая обработка сигналов М19-406 , М19-416 Бочаров Ю.И.

Технологии наноэлектроники М19-406 , М19-416 Шалтаева Ю.Р. (02.09.2020 — 21.10.2020)

Материаловедение М20-423 Громов Д.В. , Краснюк А.А.

Сенсоры и датчики в микроэлектронике М20-423 Подлепецкий Б.И.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С15-401 , С15-402 , С15-403 , С15-404 , С19-401 , С19-402 (02.09.2020 — 16.12.2020)

Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-482 Бакеренков А.С.

Основы функциональной и СВЧ микроэлектроники С16-401 , С16-402 Патрикеев Л.Н.

Микропроцессорные системы Б18-В73

Радио- и СВЧ-электроника (Radio- and UHF-electronics) С17-В01 Елесин В.В. , Чуков Г.В.

Технология и проектирование электронных и микроэлектронных систем (Technology and design of electronic and microelectronic systems) Б18-В73 Бакеренков А.С.

Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-406 , М19-416 Бакеренков А.С. (03.09.2020 — 24.09.2020)

Теоретическая физика: основы наноэлектроники М20-423 Зебрев Г.И.

Компьютерные технологии: архитектура и проектирование микропроцессорных систем М20-423 Осипенко П.Н.

Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М20-403 Бакеренков А.С. (03.09.2020 — 24.09.2020)

Надежность и радиационная стойкость интегральных схем М19-406 , М19-416 Зебрев Г.И.

Электромагнитная совместимость М20-423 Шуренков В.В. (03.09.2020 — 24.09.2020)

Микропроцессорные системы С17-401 , С17-402 Родин А.С.

Информационная техника Б18-В73 Петров А.С.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику М20-404

Интегральные СВЧ системы М19-406 , М19-416 Елесин В.В. , Чуков Г.В. (04.09.2020 — 23.10.2020)

Электромагнитная совместимость М19-406 , М19-416 Шуренков В.В. (04.09.2020 — 23.10.2020)

Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле М19-483 Бакеренков А.С.

Технология интегральных микросхем и нанотехнология С17-402 Шалтаева Ю.Р.

Информационно- измерительные системы в микроэлектронике С16-401 , С16-402 Беляков В.В.

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства М20-404

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б19-401 , Б19-402 , Б19-403

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б19-401 , Б19-402 , Б19-403

Проектирование интегральных микросхем С17-402 Попов В.Д.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б18-403

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б18-403

Цифровые и аналоговые интегральные микросхемы С17-402 Родин А.С.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику С18-401 , С18-402

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства С18-401 , С18-402

Физика микроэлектронных структур С17-401 , С17-402 Першенков В.С.

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-401 , С15-103 , С16-103 , С16-401 , С16-402 , С17-104 , С17-401 , С17-402

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-401 , С16-401 , С16-402 , С17-401 , С17-402

Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику Б17-403

Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства Б17-403