Расписание занятий группы М20-404

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Осенний семестр 2020/2021 учебного года
  3. Расписание учебных групп
  4. М20-404
  5. Расписание занятий
Расписание занятий Список обучающихся Учебный план
PDF ICS

Понедельник

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Ф
Военная подготовка
10:15 — 16:05
ДОТ
Пр
Ф
Военная подготовка

Вторник

08:30 — 10:05
ДОТ
Пр
Экономическая эффективность проектируемых приборов и систем Киреев С.В. (29.09.2020 — 15.12.2020)
ДОТ
Лек
Экономическая эффективность проектируемых приборов и систем Киреев С.В. (01.09.2020 — 15.09.2020)
ДОТ
Пр
Экономическая эффективность проектируемых приборов и систем Киреев С.В. (08.09.2020 — 22.09.2020)
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Терагерцовая фотоника Шкуринов А.П. (01.09.2020 — 22.09.2020)
ДОТ
Пр
Терагерцовая фотоника Шкуринов А.П. (29.09.2020 — 15.12.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Пр
Иностранный язык (Foreign Language) Морозова Е.В.

Среда

12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Взаимодействие излучения с веществом (Interaction of radiation with matter) Сергеева Д.Ю. , Тищенко А.А.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Взаимодействие излучения с веществом (Interaction of radiation with matter) Сергеева Д.Ю. , Тищенко А.А.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Лазеры и их применение Шнырев С.Л. (02.09.2020 — 23.09.2020)
ДОТ
Пр
Лазеры и их применение Шнырев С.Л. (30.09.2020 — 16.12.2020)

Четверг

11:05 — 12:40
ДОТ
Лек
Компьютерные технологии (Computer technologies) Катин К.П. , Маслов М.М. (03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Компьютерные технологии (Computer technologies) Катин К.П. , Маслов М.М. (01.10.2020 — 17.12.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Физическая оптика Стариков Р.С. (03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Физическая оптика Стариков Р.С. (01.10.2020 — 17.12.2020)

Пятница

10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
11:55 — 13:30
ДОТ
Пр
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
14:30 — 16:05
ДОТ
Лек
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства