Корпоративный портал
Расписание учебных групп
Расписание учебных групп
Расписание преподавателей
Расписание аудиторий
Расписание сотрудников кафедр
Расписание занятий группы М20-404
НИЯУ МИФИ
Осенний семестр 2020/2021 учебного года
Расписание учебных групп
М20-404
Расписание занятий
Сессия
Все недели
Нечетная неделя
Четная неделя
Текущий день
Текущая неделя
Расписание занятий
Список обучающихся
Учебный план
PDF
ICS
Понедельник
08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Ф
Военная подготовка
10:15 — 16:05
ДОТ
Пр
Ф
Военная подготовка
Вторник
08:30 — 10:05
ДОТ
Пр
Экономическая эффективность проектируемых приборов и систем
Киреев С.В.
(29.09.2020 — 15.12.2020)
ДОТ
Пр
Экономическая эффективность проектируемых приборов и систем
Киреев С.В.
(08.09.2020 — 22.09.2020)
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Терагерцовая фотоника
Шкуринов А.П.
(01.09.2020 — 22.09.2020)
ДОТ
Пр
Терагерцовая фотоника
Шкуринов А.П.
(29.09.2020 — 15.12.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Пр
Иностранный язык (Foreign Language)
Морозова Е.В.
Среда
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Взаимодействие излучения с веществом (Interaction of radiation with matter)
Сергеева Д.Ю.
,
Тищенко А.А.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Взаимодействие излучения с веществом (Interaction of radiation with matter)
Сергеева Д.Ю.
,
Тищенко А.А.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Лазеры и их применение
Шнырев С.Л.
(02.09.2020 — 23.09.2020)
ДОТ
Пр
Лазеры и их применение
Шнырев С.Л.
(30.09.2020 — 16.12.2020)
Четверг
11:05 — 12:40
ДОТ
Лек
Компьютерные технологии (Computer technologies)
Катин К.П.
,
Маслов М.М.
(03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Компьютерные технологии (Computer technologies)
Катин К.П.
,
Маслов М.М.
(01.10.2020 — 17.12.2020)
12:45 — 14:20
ДОТ
Лек
Физическая оптика
Стариков Р.С.
(03.09.2020 — 24.09.2020)
ДОТ
Пр
Физическая оптика
Стариков Р.С.
(01.10.2020 — 17.12.2020)
Пятница
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
11:55 — 13:30
ДОТ
Пр
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
14:30 — 16:05
ДОТ
Лек
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства