Exams for group M16-406

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Autumn semester of 2017/2018 academic year
  3. Course Schedule
  4. M16-406
  5. Exams
Printable version
Fri, 22 Dec, 10:15 — 11:50
K-1006
Att
Elect
Electronic Systems Design Alyushin M.V.
Fri, 22 Dec, 10:15 — 11:50
D-303
Att
Elect
Modern Micro and Nanotechnologies Veselov D.S.
Fri, 22 Dec, 12:00 — 15:00
403
Test
Legal and International Aspects of Nonproliferation and Nuclear Materials Safety. Kulikov E.G.
Fri, 22 Dec, 15:00 — 18:00
403
Test
Principles of Nuclear Technologies Apse V.A.
Mon, 25 Dec, 09:00 — 12:00
V-306
Att
Elect
Principles of Nuclear Electronics Garmash A.A. , Atkin E.V.
Mon, 25 Dec, 09:00 — 12:00
D-408
Att
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Bakerenkov A.S.
Mon, 25 Dec, 12:45 — 14:20
D-408
Att
Elect
Reliability and Radiation Resistance of Microelectronic Devices and Systems Zebrev G.I.
Mon, 25 Dec, 12:45 — 14:20
V-306
Att
Elect
Elements of Fault-tolerant Devices Skorobogatov P.K.
Mon, 25 Dec, 15:00 — 18:00
V-117
Test
Computer Technology Krasavin A.V.
Thu, 28 Dec, 08:30 — 10:05
K-210
Test
Law and Economics of Scientific Projects and Units Nurahov N.N.
Thu, 28 Dec, 12:00 — 15:00
dep.27
Test
Practical Training (Research Work) Samotaev N.N.
Tue, 09 Jan, 09:00 — 13:00
D-408
Exam
Elect
Reliability and Radiation Resistance of Microelectronic Devices and Systems Zebrev G.I.
Tue, 09 Jan, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elect
Elements of Fault-tolerant Devices Skorobogatov P.K.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
K-1006
Exam
Elect
Electronic Systems Design Alyushin M.V.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
D-303
Exam
Elect
Modern Micro and Nanotechnologies Veselov D.S.
Mon, 22 Jan, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elect
Principles of Nuclear Electronics Garmash A.A. , Atkin E.V.
Mon, 22 Jan, 09:00 — 13:00
D-408
Exam
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Bakerenkov A.S.