Exams for group M23-210

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Autumn semester of 2023/2024 academic year
  3. Course Schedule
  4. M23-210
  5. Exams
Printable version
Fri, 22 Dec, 10:15 — 11:50
K-1009
Att
Analog Integrated Devices for Measuring Systems Maslennikov V.V.
Fri, 22 Dec, 12:45 — 14:20
K-1009
Elect
Parameter Measuring in Speedy Processes Reshetov V.N.
Fri, 22 Dec, 14:30 — 16:05
K-1017
Interfaces Alyushin A.V.
Tue, 26 Dec, 10:15 — 11:50
K-1017
Test
Computer methods for modeling and processing experimental data Korobkova E.A.
Tue, 26 Dec, 13:35 — 15:15
K-1017
Att
Alyushin M.V.
Wed, 27 Dec, 11:55 — 13:30
D-405
Test
Microprocessor control system Rodin A.S. , Mateyko A.A.
Wed, 27 Dec, 14:30 — 16:05
K-1017
Att
Methods of Storing Experimental Data. Databases Alyushin A.V.
Wed, 27 Dec, 17:05 — 18:40
NLK-466
Att
Selected Chapters of Higher Mathematics Mazur E.A.
Thu, 28 Dec, 13:35 — 15:15
dep.26
Academic practice (industry, technology) Alyushin A.V.
Thu, 28 Dec, 15:20 — 17:00
K-1009
Elect
Measuring of Electromagnetic Process Parameters Reshetov V.N.
Thu, 28 Dec, 17:55 — 19:30
B-205
Test
Foreign Language (Special Course) Zarudneva K.V.
Thu, 11 Jan, 09:00 — 13:00
K-1017
Exam
Alyushin M.V.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
K-1017
Exam
Methods of Storing Experimental Data. Databases Alyushin A.V.
Sat, 20 Jan, 09:00 — 13:00
401
Exam
Selected Chapters of Higher Mathematics Mazur E.A.
Wed, 24 Jan, 09:00 — 13:00
K-1009
Exam
Analog Integrated Devices for Measuring Systems Reshetov V.N.