Ученая степень:
кандидат физико-математических наук
Доцент
Кафедра физики конденсированных сред (67, ИНТЭЛ КАФ.67)
Ведущий инженер
Научно-исследовательская лаборатория молекулярно-лучевой эпитаксии и нанолитографии центра радиофотоники и свч-технологий института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ (Научно-исследовательская лаборатория молекулярно-лучевой эпитаксии и нанолитографии центра радиофотоники и свч-технологий института нанотехнологий в э)
Старший научный сотрудник
Центр радиофотоники и свч-технологий института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ (Центр радиофотоники и свч-технологий института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ)
Высшее образование — специалитет, магистратура: МГУ им. М. Ломоносова. 2009. Специальность «Физики конденсированного состояния вещества». Kвалификация «физик»
Преподаваемые дисциплины
1.
Гетероструктурная оптоэлектроника
2.
Терагерцовая фотоника
3.
Технологические основы фотоники
4.
Физика и технология молекулярно- лучевой эпитаксии
труды конференции РИНЦ
THZ QUANTUM CASCADE LASERS WITH TWO-PHOTON DESIGN
//
The 5-th lnternational Conference Terahertz and Microwave Radiation: Generation, Detection and Applications (ТЕRА-2023), 2023
pp. 134-134
doi
10 ноября 2023 — 29 ноября 2023
Введение в радиационно-стойкую электронику
(16 часов)
НИЯУ МИФИ
25 октября 2023 — 30 ноября 2023
Технологии современной компонентной базы СВЧ электроники, оптоэлектроники и радиофотоники
(18 часов)
НИЯУ МИФИ
9 декабря 2022 — 23 декабря 2022
Принципы построения беспроводных биомедицинских интерфейсов и цифровых сенсорных сетей
(72 часа)
Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
5 декабря 2022 — 7 декабря 2022
Основные возможности и дополнительные функции осциллографического анализа электрических сигналов с помощью оборудования Rohde&Schwarz
(24 часа)
Учебный центр безопасности информации МАСКОМ
26 ноября 2021 — 21 декабря 2021
Цифровая трансформация университета
(16 часов)
НИЯУ МИФИ
5 июля 2021 — 11 июля 2021
Базовые навыки работы (1-й уровень) и безопасность эксплуатации времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов TOF-SIMS-5
(40 часов)
г.Москва
Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»