Показаны публикации за последние 3 года
Показаны конференции за последние 3 года
Повышение квалификации в форме научной стажировки по теме "Исследование особенностей микроструктуры и элементного состава поверхностно-легированных сталей методом просвечивающей микроскопии высокого разрешения" проводилось со 2 по 23 февраля в Массачусетском Технологическом Институте, Бостон, США.
Тренинг-стажировка по освоению приемов и методик работы на аналитическом просвечивающем электронном микроскопе FEI Technai G2 F20 с ЭДС приставкой EDAX, 14-18 апреля 2014 г
Тренинг-стажировка по освоению приемов и методик работы на аналитическом электронном микроскопе FEI Helios Nanolab 660 с ЭДС приставкой EDAX, 7-11 апреля 2014 г.
Краткосрочная стажировка на Смоленской АЭС, 21-23 ноября 2018
Краткосрочная стажировка на Калининской АЭС, 2019
Семинар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и рентгеноспектральному микроанализу, ООО ТЕСКАН, Санкт-Петербург, 05-09 июля 2021
Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»