D-311. Exam Schedule Building D

Mon, 04 Nov, 18:00 — 22:00
Exam
Computer-aided Design: Computer-aided Design Systems in Microelectronics B16-V77 Useinov R.G.
Mon, 23 Dec, 12:00 — 15:00
Att
Digital and analog integrated circuits S16-401 Chernikov A.V.
Tue, 24 Dec, 12:00 — 15:00
Test
Microelectronic Radio Devices S15-402, S15-404 Bocharov Y.I.
Tue, 24 Dec, 16:15 — 17:50
Att
Sensors and gauges in microelectronics M19-483 Podlepetskiy B.I.
Wed, 25 Dec, 09:00 — 12:00
Test
Microprocessor Systems B16-403 Shaltaeva Y.R.
Wed, 25 Dec, 12:00 — 15:00
Att
Information Measurement Systems S15-401 Belyakov V.V.
Wed, 25 Dec, 15:00 — 18:00
Att
Software Support of Modern Microprocessors and Microcontrollers Subgroup 2 S15-402 Bocharov Y.I.
Thu, 26 Dec, 09:00 — 12:00
Test
Software and Hardware Support of PCs S17-402, S17-403 Gorbunov M.S.
Thu, 26 Dec, 12:00 — 15:00
Att
Reliability and Radiation Resistance of Integrated Circuits S15-402 Zebrev G.I.
Fri, 27 Dec, 09:00 — 12:00
Test
Practical Training (Research Work) S16-401 Shaltaeva Y.R.
Fri, 27 Dec, 12:00 — 15:00
Test
Practical Training (Research Work) S16-402 Shaltaeva Y.R.
Sat, 28 Dec, 12:00 — 15:00
Test
Information Measurement Systems S15-402, S15-404 Belyakov V.V.
Fri, 10 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Information Measurement Systems S15-401 Belyakov V.V.
Mon, 13 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Integrated circuit technology and nanotechnology S16-401 Veselov D.S.
Wed, 15 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Sensors and gauges in microelectronics M19-483 Podlepetskiy B.I.
Fri, 17 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Digital and analog integrated circuits S16-401 Chernikov A.V.
Tue, 21 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Principles of Optoelectronics S15-402, S15-404 Voronov Y.A.
Mon, 27 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Reliability and Radiation Resistance of Integrated Circuits S15-402 Zebrev G.I.