Exams for group M17-403

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Spring semester of 2017/2018 academic year
  3. Course Schedule
  4. M17-403
  5. Exams
Printable version
Thu, 03 May, 12:45 — 14:20
B-100
Test
Principles of Information Security Malyuk A.A.
Sat, 05 May, 09:00 — 12:00
33-304
Test
Opt
Physics of Semiconductors Borisov K.E.
Tue, 22 May, 13:35 — 16:05
98-5
Att
Physics of Nanosystems Kulbachinskiy V.A.
Tue, 22 May, 16:15 — 17:50
V-306
Att
Elect
Computer Technology: Electronic Design Automation (Eda) Nekrasov P.V. , Kalashnikov O.A.
Tue, 22 May, 16:15 — 17:50
D-408
Att
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Shaltaeva Y.R. , Bakerenkov A.S.
Tue, 22 May, 16:15 — 17:50
33-304
Att
Elect
Experimental Methods of Condensed Matter Physics Katin K.P.
Wed, 23 May, 08:30 — 10:05
dep.67
Test
Academic (Research) Practice Vasilievskiy I.S.
Wed, 23 May, 10:15 — 11:50
dep.67
Test
Practical Training (Research Work) Vasilievskiy I.S.
Thu, 24 May, 14:30 — 17:00
33-304
Att
Devices of Micro-and Nanoelectronics: Physics and Technology Kargin N.I.
Thu, 24 May, 17:05 — 18:40
33-302
Att
Introduction to Measurements in Solid-state Nanoelectronics Kargin N.I.
Tue, 05 Jun, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elect
Computer Technology: Electronic Design Automation (Eda) Nekrasov P.V. , Kalashnikov O.A.
Tue, 05 Jun, 09:00 — 13:00
D-408
Exam
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Shaltaeva Y.R. , Bakerenkov A.S.
Tue, 05 Jun, 09:00 — 13:00
33-304
Exam
Elect
Experimental Methods of Condensed Matter Physics Maslov M.M.
Sat, 09 Jun, 09:00 — 13:00
33-304
Exam
Devices of Micro-and Nanoelectronics: Physics and Technology Kargin N.I.
Wed, 13 Jun, 09:00 — 13:00
33-302
Exam
Physics of Nanosystems Kulbachinskiy V.A.
Mon, 18 Jun, 09:00 — 13:00
33-304
Exam
Introduction to Measurements in Solid-state Nanoelectronics Kargin N.I.