Exams for group S13-404

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Autumn semester of 2017/2018 academic year
  3. Course Schedule
  4. S13-404
  5. Exams
Printable version
Fri, 22 Dec, 12:00 — 15:00
D-303
Att
Reliability and Radiation Resistance of Integrated Circuits Zebrev G.I.
Fri, 22 Dec, 15:00 — 18:00
dep.27
Test
Scientific Research Work Shagurin I.I.
Mon, 25 Dec, 09:00 — 12:00
D-311
Test
Microelectronic Radio Devices Bocharov Y.I.
Mon, 25 Dec, 12:00 — 15:00
K-1117
Test
Quantum Radiophysics Larkin A.I.
Mon, 25 Dec, 15:00 — 18:00
D-311
Att
Sensors Based on Micro- and Nanotechnologies Podlepetskiy B.I.
Tue, 26 Dec, 09:00 — 12:00
E-212
Test
Life Safety Zvantsev A.A.
Tue, 26 Dec, 12:00 — 15:00
D-311
Test
Information Measurement Systems Belyakov V.V.
Tue, 26 Dec, 15:00 — 18:00
B-100
Test
Management and Marketing Silenko A.N.
Thu, 28 Dec, 09:00 — 12:00
D-311
Att
Principles of Optoelectronics Voronov Y.A.
Thu, 28 Dec, 12:00 — 15:00
D-311
Att
Software Support of Modern Microprocessors and Microcontrollers Shagurin I.I.
Thu, 11 Jan, 09:00 — 13:00
D-303
Exam
Software Support of Modern Microprocessors and Microcontrollers Shagurin I.I.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
D-311
Exam
Principles of Optoelectronics Voronov Y.A.
Sat, 20 Jan, 09:00 — 13:00
D-311
Exam
Reliability and Radiation Resistance of Integrated Circuits Zebrev G.I.
Thu, 25 Jan, 09:00 — 13:00
D-405
Exam
Sensors Based on Micro- and Nanotechnologies Podlepetskiy B.I.