Расписание сессии группы М25-506

Институт интеллектуальных кибернетических систем НИЯУ МИФИ

Сб, 23 мая, 08:30 — 10:05
Атт
Иностранный язык (специальный курс) Нигматуллина Э.Р.
Пн, 25 мая, 18:45 — 20:20
Атт
3
Основы аттестации технических средств обработки информации Вавичкин А.Н.
Пн, 25 мая, 18:45 — 20:20
Атт
3
Сертификация средств защиты информации по требованиям безопасности информации Арустамян С.С.
Вт, 26 мая, 16:15 — 17:50
З/О
Управление информационной безопасностью Горбатов В.С.
Вт, 26 мая, 18:45 — 20:20
Зач
Методы и средства контроля эффективности защиты информации от несанкционированного доступа Голубев А.Г.
Ср, 27 мая, 17:05 — 18:40
Зач
Основы радиотехники Солопов А.И.
Ср, 27 мая, 18:45 — 20:20
Атт
2
Основы категорирования значимых объектов критической информационной инфраструктуры Резниченко С.А.
Ср, 27 мая, 18:45 — 20:20
Атт
2
Физические основы технических каналов утечки информации Солопов А.И.
Чт, 28 мая, 18:45 — 20:20
Зач
Основы предотвращения инцидентов и снижения рисков Евсеев В.Л.
Чт, 28 мая, 20:25 — 22:00
Атт
Защищенные информационные системы Евсеев В.Л.
Пт, 29 мая, 18:45 — 20:20
З/О
Целенаправленные атаки на компьютерные системы Муравьёв С.К.
Пт, 29 мая, 20:25 — 22:00
Атт
Производственная практика (научно-исследовательская работа) Дураковский А.П.
Пт, 05 июня, 09:00 — 13:00
Экз
Иностранный язык (специальный курс) Шушунова Е.В. , Рассказова Л.В.
Ср, 10 июня, 18:00 — 22:00
Экз
Защищенные информационные системы Евсеев В.Л.
Пн, 15 июня, 18:00 — 22:00
Экз
3
Основы аттестации технических средств обработки информации Вавичкин А.Н.
Пн, 15 июня, 18:00 — 22:00
Экз
3
Сертификация средств защиты информации по требованиям безопасности информации Арустамян С.С.
Пт, 19 июня, 18:00 — 22:00
Экз
2
Основы категорирования значимых объектов критической информационной инфраструктуры Резниченко С.А.
Пт, 19 июня, 18:00 — 22:00
Экз
2
Физические основы технических каналов утечки информации Солопов А.И.
Ср, 24 июня, 18:00 — 22:00
Экз
Производственная практика (научно-исследовательская работа) Марков А.С. , Дворянкин С.В. , Дураковский А.П.