Exams for group M24-406

Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Autumn semester of 2025/2026 academic year
  3. Course Schedule
  4. M24-406
  5. Exams
Printable version
Thu, 11 Dec, 16:15 — 17:50
V-403
Reserved Dep. 75 Klimova S.E.
Mon, 22 Dec, 11:55 — 13:30
NLK-3.44
Att
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Belyakov V.V. , Bakerenkov A.S.
Mon, 22 Dec, 11:55 — 13:30
407
Att
Elect
Electronic Systems Design Usachev N.A.
Mon, 22 Dec, 14:30 — 16:05
dep.3
Att
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.
Wed, 24 Dec, 14:30 — 16:05
V-306
Att
Elect
Principles of Nuclear Electronics Atkin E.V.
Wed, 24 Dec, 16:15 — 17:50
E-411
Test
Principles of Nuclear Technologies Apse V.A.
Wed, 24 Dec, 18:45 — 20:20
B-219
Test
Integrated Microwave Systems Chukov G.V. , Elesin V.V.
Thu, 25 Dec, 14:30 — 16:05
V-306
Att
Elements of fault-tolerant systems Boruzdina A.B.
Thu, 25 Dec, 16:15 — 17:50
NLK-4.89
Test
Elect
Television and Space Systems Krasnyuk A.A.
Thu, 25 Dec, 16:15 — 17:50
D-405
Test
Elect
Digital Signal Processing Bocharov Y.I.
Thu, 25 Dec, 18:45 — 20:20
V-118
Test
Computer Technology Kartsev P.F.
Fri, 26 Dec, 11:55 — 13:30
T-208
Test
Economics and Law in Scientific Research Klimova S.E.
Fri, 26 Dec, 14:30 — 16:05
V-315
Test
Krasnyuk A.A.
Fri, 26 Dec, 16:15 — 17:50
V-409
Att
Elect
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Mon, 12 Jan, 09:00 — 13:00
V-409
Exam
Elect
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Mon, 12 Jan, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elect
Principles of Nuclear Electronics Atkin E.V.
Fri, 16 Jan, 09:00 — 13:00
NLK-3.44
Exam
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Belyakov V.V. , Bakerenkov A.S.
Fri, 16 Jan, 09:00 — 13:00
V-315
Exam
Elect
Electronic Systems Design Usachev N.A.
Tue, 20 Jan, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elements of fault-tolerant systems Boruzdina A.B.
Mon, 26 Jan, 09:00 — 13:00
dep.3
Exam
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.