Exams for group S20-501

Институт интеллектуальных кибернетических систем НИЯУ МИФИ

Mon, 23 Dec, 13:35 — 15:15
Att
Industry Workshop: research, methods and means of automated systems for information processing and management Berezkin E.F. , Evstifeev A.A. , Bushina K.S. , Ovcharenko E.S. , Kurginyan E.A. , Kulik S.D. , Krasnikova S.A. , Zalesskiy B.A.
Mon, 23 Dec, 16:15 — 17:50
Test
Bushina K.S.
Mon, 23 Dec, 18:45 — 20:20
Test
Complex System Risk Management Evstifeev A.A.
Tue, 24 Dec, 17:05 — 18:40
Att
Principles of Digital Data Processing Application and Theory Zaeva M.A.
Tue, 24 Dec, 18:45 — 20:20
Att
Technology of Chip Projects Design Reshetko V.M.
Wed, 25 Dec, 10:15 — 11:50
Att
Technology and Systems Integration Standards Zolotaryov I.V.
Wed, 25 Dec, 12:45 — 14:20
Test
Kulik S.D.
Wed, 25 Dec, 15:20 — 17:50
Test
Principles of cyber security in nuclear energy Ivanenko V.G.
Fri, 27 Dec, 18:45 — 20:20
Test
Production Organization and Planning Evstifeev A.A.
Mon, 13 Jan, 13:00 — 17:00
Exam
Technology and Systems Integration Standards Zolotaryov I.V.
Fri, 17 Jan, 13:00 — 17:00
Exam
Principles of Digital Data Processing Application and Theory Zaeva M.A.
Tue, 21 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Technology of Chip Projects Design Reshetko V.M.
Sat, 25 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Industry Workshop: research, methods and means of automated systems for information processing and management Zaeva M.A. , Krasnikova S.A. , Ovcharenko E.S. , Drevs Y.G. , Shevchenko N.A. , Berezkin E.F.