Exams for group M23-406

Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ

Mon, 23 Dec, 14:30 — 16:05
Test
Krasnyuk A.A.
Mon, 23 Dec, 16:15 — 17:50
Test
Computer Technology Kartsev P.F.
Mon, 23 Dec, 18:45 — 20:20
Att
Technologies of nanoelectronics Veselov D.S.
Tue, 24 Dec, 16:15 — 17:50
Test
Economics and Law in Scientific Research Klimova S.E.
Tue, 24 Dec, 18:45 — 20:20
Test
Integrated Microwave Systems Elesin V.V. , Chukov G.V.
Wed, 25 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Wed, 25 Dec, 16:15 — 17:50
Test
Television and Space Systems Krasnyuk A.A.
Wed, 25 Dec, 18:45 — 20:20
Test
Principles of Nuclear Technologies Apse V.A.
Thu, 26 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.
Thu, 26 Dec, 17:55 — 19:30
Att
Electronic Systems Design Usachev N.A.
Mon, 13 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Fri, 17 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Electronic Systems Design Boychenko D.V.
Tue, 21 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Technologies of nanoelectronics Veselov D.S.
Sat, 25 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.