Exams for group M23-210

Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ

Fri, 20 Dec, 16:15 — 17:50
403
Test
Management and Marketing Stepanova E.B. , Prohorov I.V.
Mon, 23 Dec, 10:15 — 11:50
Att
Elect
Alyushin A.V.
Mon, 23 Dec, 12:45 — 14:20
Att
Computer workshop: modeling of physical systems Alyushin A.V.
Wed, 25 Dec, 08:30 — 10:05
Att
Academic practice (industry, technology) Alyushin M.V.
Wed, 25 Dec, 10:15 — 11:50
Practical Training (Research Work) Alyushin M.V.
Thu, 26 Dec, 12:45 — 14:20
Att
Elect
Alyushin M.V.
Thu, 26 Dec, 14:30 — 16:05
Test
Ibragimov R.F.
Fri, 27 Dec, 16:15 — 17:50
Att
Principles of Metrology and analysis of measurement results Ryabeva E.V.
Fri, 27 Dec, 17:55 — 19:30
Test
Methodology of Science Martinkus P.P.
Mon, 13 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Elect
Alyushin M.V.
Mon, 13 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Elect
Alyushin A.V.
Fri, 17 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Principles of Metrology and analysis of measurement results Ryabeva E.V.
Tue, 21 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Computer workshop: modeling of physical systems Alyushin A.V.
Sat, 25 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Academic practice (industry, technology) Alyushin M.V.