Exams for group M22-406

  1. НИЯУ МИФИ
  2. Autumn semester of 2023/2024 academic year
  3. Course Schedule
  4. M22-406
  5. Exams
Printable version
Fri, 22 Dec, 16:15 — 17:50
K-210
Test
Economics and Law in Scientific Research Klimova S.E.
Fri, 22 Dec, 17:55 — 19:30
V-117
Test
Computer Technology Podlivaev A.I.
Mon, 25 Dec, 11:55 — 13:30
dep.3
Att
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.
Mon, 25 Dec, 13:35 — 15:15
D-407
Att
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Bakerenkov A.S.
Mon, 25 Dec, 13:35 — 15:15
V-315
Att
Elect
Electronic Systems Design Zhidkov N.M.
Mon, 25 Dec, 16:15 — 17:50
V-315
Att
Elements of fault-tolerant systems Kessarinskiy L.N.
Tue, 26 Dec, 18:45 — 20:20
V-306
Test
Elect
Integrated Microwave Systems Chukov G.V. , Elesin V.V.
Wed, 27 Dec, 17:05 — 18:40
V-306
Test
Television and Space Systems Krasnyuk A.A.
Wed, 27 Dec, 18:45 — 20:20
V-417
Test
Elect
Electromagnetic Compatibility (Emc) Shurenkov V.V.
Thu, 28 Dec, 15:20 — 17:00
K-305
Test
Principles of Nuclear Technologies Apse V.A. , Kruglikov A.E.
Thu, 28 Dec, 17:55 — 19:30
D-408
Att
Elect
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Thu, 28 Dec, 17:55 — 19:30
dep.3
Att
Elect
Principles of Nuclear Electronics Atkin E.V.
Thu, 28 Dec, 19:35 — 21:10
V-315
Test
Krasnyuk A.A.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
D-407
Exam
Elect
Design of Integrated Circuits and Systems-on-Chip (SOC) Belyakov V.V.
Mon, 15 Jan, 09:00 — 13:00
V-315
Exam
Elect
Electronic Systems Design Boychenko D.V.
Fri, 19 Jan, 09:00 — 13:00
V-418
Exam
Elements of fault-tolerant systems Kessarinskiy L.N.
Tue, 23 Jan, 09:00 — 13:00
D-408
Exam
Elect
Reliability and radiation resistance of integrated circuits Zebrev G.I.
Tue, 23 Jan, 09:00 — 13:00
V-306
Exam
Elect
Principles of Nuclear Electronics Atkin E.V.
Mon, 29 Jan, 09:00 — 13:00
dep.3
Exam
Practical Training (Research Work) Barbashov V.M.