Exams for group M21-210

Thu, 16 Dec, 16:15 — 17:50
eLearn
Test
Foreign Language Samuylik T.Y.
Wed, 22 Dec, 12:45 — 14:20
Test
Computer methods for modeling and processing experimental data Mescheryakov V.V.
Wed, 22 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Analog Integrated Devices for Measuring Systems Avtushko V.P. , Maslennikov V.V.
Wed, 22 Dec, 16:15 — 17:50
Academic practice (industry, technology) Reshetov V.N. , Alyushin M.V. , Mescheryakov V.V.
Fri, 24 Dec, 11:55 — 13:30
Measuring of Electromagnetic Process Parameters Reshetov V.N.
Fri, 24 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Interfaces Zabiyaka D.A. , Alyushin M.V.
Fri, 24 Dec, 16:15 — 17:50
Att
Tue, 28 Dec, 11:55 — 13:30
Test
Microprocessor control system Felitsyn V.A.
Tue, 28 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Korobkova E.A. , Mescheryakov V.V.
Tue, 28 Dec, 16:15 — 17:50
Test
Principles of Metrology and analysis of measurement results Ryabeva E.V.
Mon, 10 Jan, 09:00 — 13:00
eLearn
Exam
Alyushin M.V. , Nikonorov D.V.
Fri, 14 Jan, 09:00 — 13:00
eLearn
Exam
Analog Integrated Devices for Measuring Systems Maslennikov V.V. , Avtushko V.P.
Thu, 20 Jan, 09:00 — 13:00
eLearn
Exam
Interfaces Alyushin M.V. , Zabiyaka D.A.
Mon, 24 Jan, 09:00 — 13:00
eLearn
Exam
Mescheryakov V.V. , Korobkova E.A.