Расписание занятий группы С16-401

Понедельник

09:20 — 10:05
ДОТ
Пр
Конструирование и технология электронной аппаратуры Барбашов В.М.
10:15 — 13:30
ДОТ
Лек
Конструирование и технология электронной аппаратуры Барбашов В.М. (07.09.2020 — 14.12.2020)
14:30 — 17:50
ДОТ
Лаб
Основы оптоэлектроники 3 занятия Воронов Ю.А.

Вторник

12:45 — 14:20
ДОТ
Пр
2
Космические и телевизионные системы Краснюк А.А.
ДОТ
Пр
2
Радиочастотная и СВЧ электроника Бочаров Ю.И.
14:30 — 16:05
ДОТ
Пр
Физические основы наноэлектроники Зебрев Г.И.
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
3
Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors Подлепецкий Б.И.
ДОТ
Пр
3
Электронные датчики Согоян А.В.
17:55 — 18:40
ДОТ
Лаб
3
Датчики на основе микро- и нанотехнологий / Micro and Nanotechnology Sensors Подлепецкий Б.И.
ДОТ
Лаб
3
Электронные датчики Согоян А.В.

Среда

08:30 — 10:05
ДОТ
Пр
Научные программы Новейшего времени Шмонин Д.В. (09.09.2020 — 18.11.2020)
10:15 — 11:50
ДОТ
Лек
Безопасность жизнедеятельности Костерев В.В.
11:55 — 13:30
ДОТ
Пр
Безопасность жизнедеятельности Орлова К.Н.
14:30 — 16:05
ДОТ
Лаб
4
Основы функциональной и СВЧ микроэлектроники Патрикеев Л.Н.
ДОТ
Лаб
4
Проектирование электронных систем Бойченко Д.В.
16:15 — 17:50
ДОТ
Пр
4
Основы функциональной и СВЧ микроэлектроники Патрикеев Л.Н.
ДОТ
Пр
4
Проектирование электронных систем Бойченко Д.В.

Четверг

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Ф
Военная подготовка
10:15 — 17:00
ДОТ
Пр
Ф
Военная подготовка

Пятница

08:30 — 10:05
ДОТ
Лек
Экономика и управление в промышленности на основе инновационных подходов к управлению конкурентоспособностью Медведева Ю.М. (04.09.2020 — 20.11.2020)
10:15 — 11:50
ДОТ
Пр
Экономика и управление в промышленности на основе инновационных подходов к управлению конкурентоспособностью Медведева Ю.М. (04.09.2020 — 20.11.2020)
12:45 — 16:05
ДОТ
Пр
Информационно- измерительные системы в микроэлектронике Беляков В.В.
16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Квантовая радиофизика Ларкин А.И.

Суббота

16:15 — 17:50
ДОТ
Лек
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
ДОТ
Лек
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства
17:55 — 19:30
ДОТ
Пр
Ф
Воздействие ионизирующих излучений космического пространства на электронику
ДОТ
Пр
Ф
Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства