Персональные страницы сотрудников НИЯУ МИФИ
НИЯУ МИФИ Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
  1. Научно-педагогические работники
  2. Бакеренков А.С.
Бакеренков А.С.

Бакеренков Александр Сергеевич

Ученая степень: кандидат технических наук

Доцент

Кафедра микро- и наноэлектроники (№27) института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ
  • Д-408
  • 8771
Написать сообщение Осень 2024. Расписание
Работает в МИФИ с 2009 года

Образование

Высшее образование — специалитет, магистратура: ФГБОУ ВПО "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г.Москва. 2010. Специальность «Электроника и автоматика физических установок». Kвалификация «Инженер-физик»

Преподаваемые дисциплины

1. Надежность и радиационная стойкость интегральных схем
2. Проектирование интегральных микросхем и систем на кристалле

Публикационная активность

3
Индекс Хирша (Web of Science)
6
Индекс Хирша (Scopus)

Показаны публикации за последние 3 года

  1. журнал ВАК Чувствительный элемент для регистрации ЛПЭ ТЗЧ в бортовых электронных системах космических аппаратов // Наноиндустрия, 2024г. Т. 17, Вып. S10-1 Стр. 215-220 doi
  2. труды конференции РИНЦ Перспективы внедрения языка system RDL в разработку IP-блоков // Современные проблемы физики и технологий, 2024г. Стр. 178-180
  3. журнал ВАК ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ЭКСПЛУАТАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ К ИОНИЗИРУЮЩЕМУ ИЗЛУЧЕНИЮ // Датчики и системы, 2023г. Вып. 3 Стр. 12-16 doi
  4. журнал ВАК МОДЕЛИРОВАНИЕ ПОСТРАДИАЦИОННОЙ РЕЛАКСАЦИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ИМС БИПОЛЯРНОЙ ТЕХНОЛОГИИ // Датчики и системы, 2021г. Вып. 5 Стр. 69-71 doi
  5. Статья
    Web of Science & Scopus
    Application of MISFETs for Irradiation Dose Rate Measurement // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 351-355 doi
  6. Статья
    Web of Science & Scopus
    Testing for Enhanced Low Dose Rate Sensitivity and Reduced Low Dose Rate Sensitivity Bipolar Devices // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 361-363 doi
  7. Статья
    Web of Science & Scopus
    Technique for Numerical Simulation of Post-irradiation Annealing including Temperature Drift of Electrical Parameters of Devices under Test // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 369-370 doi

Показаны конференции за последние 3 года

Информация о конференциях не найдена

Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»