Владимиров М.В.

Владимиров Михаил Владиславович

Ассистент

Кафедра электрофизических установок (№14) института ядерной физики и технологий НИЯУ МИФИ

Инженер

Кафедра электрофизических установок (№14) института ядерной физики и технологий НИЯУ МИФИ
Работает в МИФИ с 2022 года

Образование

Высшее образование — бакалавриат: ФГАОУ ВО "Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого". 2021. Направление «Техническая физика». Kвалификация «бакалавр»
Высшее образование — специалитет, магистратура: ФГАОУ ВО "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ". 2023. Направление «Прикладные математика и физика». Kвалификация «магистр»
Профессиональное обучение: ФГАОУ ВО "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" г. Москва. 2024. Современные подходы к анализу данных в ядерной физике и технике пк №088733.

Преподаваемые дисциплины

1. Вычислительные методы в физике
2. Информатика

Образовательные программы

1. Компьютерные системы и технологии
2. Ускорители заряженных частиц для радиационных технологий

Публикационная активность

2
Индекс Хирша (Scopus)
1
Индекс Хирша (РИНЦ)

Показаны публикации за последние 3 года

  1. Статья
    Издание МИФИ
    Моделирование динамики заряда полупроводникового слоя фотокатода // Ядерная физика и инжиниринг, 2024г. Т. 15, Вып. 5 Стр. 450-456 doi
  2. Статья
    Web of Science & Scopus
    Design of a Radio-Frequency Photogun for the Linac Injector of the Free-Electron Laser of the SYLA Ultimate Source of Synchrotron Radiation // Physics of Particles and Nuclei Letters, 2024 Vol. 21, No. 3, Q3 pp. 322-327 doi
  3. труды конференции РИНЦ ТЕОРИЯ ОБЕДНЕНИЯ ФОТОКАТОДА В СВЧ ФОТОПУШКАХ: ТЕКУЩИЙ СТАТУС // Лазерные, плазменные исследования и технологии ЛаПлаз-2024, 2024г. Стр. 323
  4. Статья
    Web of Science & Scopus
    Semiconductor photocathode's charge in a high gradient RF photoinjector // Journal of Instrumentation, 2024 Vol. 19, No. 2, Q2 doi
  5. журнал ВАК Подход к описанию заполнения электронами металла полупроводникового слоя фотокатода // Письма в журнал Физика элементарных частиц и атомного ядра, 2023г. Т. 20, Вып. 4 Стр. 1041-1046
  6. журнал РИНЦ Проект научной программы инок – комптоновского источника монохроматических гамма-квантов НЦФМ // Физмат, 2023г. Т. 1, Вып. 3-4 Стр. 123-264 doi
  7. Статья
    Web of Science & Scopus
    Simulation of Charge Dynamics of a Photocathode Semiconductor Layer // Physics of Atomic Nuclei, 2023 Vol. 86, No. 12, Q4 pp. 2628-2633 doi
  8. Статья
    Издание МИФИ
    Диффузионная модель для описания релаксационного процесса в обедненном электронами полупроводниковом слое фотокатода // Ядерная физика и инжиниринг, 2023г. Т. 14, Вып. 4 Стр. 389-393 doi
  9. труды конференции РИНЦ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИНАМИКИ ЗАРЯДА ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО СЛОЯ ФОТОКАТОДА Cs2Te/Mo В БЕСПОЛЕВОМ ПРИБЛИЖЕНИИ // Современные проблемы физики и технологий, 2023г. Стр. 129-130
  10. Статья
    Web of Science & Scopus
    An Approach to Describe the Filling of the Photocathode Semiconductor Layer by Conduction Electrons // Physics of Particles and Nuclei Letters, 2023 Vol. 20, No. 4, Q3 pp. 937-940 doi
  11. труды конференции РИНЦ УЧЕТ ГЕНЕРАЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ ПРИ МОДЕЛИРОВАНИИ ДИНАМИКИ ЗАРЯДА ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО СЛОЯ ФОТОКАТОДА // Лазерные, плазменные исследования и технологии - ЛаПлаз-2023, 2023г. Стр. 283
  12. труды конференции РИНЦ ДИФФУЗИОННАЯ МОДЕЛЬ ДЛЯ ОПИСАНИЯ РЕЛАКСАЦИОННОГО ПРОЦЕССА В ОБЕДНЁННОМ ЭЛЕКТРОНАМИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОМ СЛОЕ ФОТОКАТОДА // ЛАЗЕРНЫЕ, ПЛАЗМЕННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ И ТЕХНОЛОГИИ. ЛАПЛАЗ-2022, 2022г. Стр. 307
  13. Статья
    Web of Science & Scopus
    Diffusion Model for Describing Relaxation Process in an Electron-Depleted Semiconductor Layer of a Photocathode // Physics of Atomic Nuclei, 2022 Vol. 85, No. 12, Q4 pp. 2032-2035 doi

Показаны конференции за последние 3 года

  1. Июль 2024 III Всероссийская школа-семинар Национального центра физики и математики для студентов старших курсов, аспирантов, молодых ученых и специалистов по физике высоких энергий, ядерной физике и ускорительной технике Тема доклада: Транспорт электронов в фотокатодах под воздействием индуцирующих лазерных импульсов
  2. Сентябрь 2024 The 10th International Conference "Charged & Neutral Particles Channeling Phenomena" Тема доклада: Features of Electron Bunch Formation in Radiofrequency Photoinjectors
  3. Сентябрь 2024 XV Международный семинар по проблематике ускорителей заряженных частиц памяти проф. В.П. Саранцева Тема доклада: Теория обеднения фотокатода в СВЧ фотопушках: текущий статус
  4. Март 2024 X Международная конференция «Лазерные, плазменные исследования и технологии» ЛаПлаз-2024 Тема доклада: Теория обеднения фотокатода в СВЧ фотопушке: текущий статус
  5. Октябрь 2023 III Школа для молодых ученых «Мощные источники электромагнитного излучения терагерцевого, оптического и рентгеновского диапазонов на основе фотоинжекторых комплексов» Тема доклада: Полупроводниковый фотокатод в высокоградиентном СВЧ фотоинжекторе
  6. Сентябрь 2023 Russian Particle Accelerator Conference (RuPAC'23) Тема доклада: Modelling of e− charge dynamics of the semiconductor layer of Cs2Te/Mo photocathode
  7. Сентябрь 2023 The XIV International Symposium "Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures" merged with " Electron, Positron, Neutron and X-ray Scattering under External Influences" Тема доклада: Electron charge dynamics of the semiconductor photocathode during the laser-induced photoemission

Повышение квалификации

20 декабря 2023 — 12 января 2024 Современные подходы к анализу данных в ядерной физике и технике (30 часов) НИЯУ МИФИ
13 июня 2023 — 17 июля 2023 Лазерно-плазменные источники синхротронного излучения (90 часов) НИЯУ МИФИ
3 апреля 2023 — 6 июня 2023 Современные проблемы создания ускорителей заряженных частиц (144 часа) НИЯУ МИФИ
3 апреля 2023 — 29 мая 2023 Экспериментальные методы и техника эксперимента для синхротронных, рентгеновских и нейтронных исследований (72 часа) НИЯУ МИФИ

Стажировки

JINR-MEPhI SUMMER STUDENT PROGRAMME on accelerator physics and technology (JINR LHEP, 2022).
Supervisors: Prof. Valery Lebedev and Prof. Victor Smirnov

Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»