Жуков А.И.

Жуков Александр Иванович

Заведующий лабораторией

Кафедра микро- и наноэлектроники (27, ИНТЭЛ КАФ.27)

Ассистент

Кафедра микро- и наноэлектроники (27, ИНТЭЛ КАФ.27)
Работает в МИФИ с 2019 года

Образование

Высшее образование — специалитет, магистратура: Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ». 2020. Специальность «Электроника и автоматика физических установок». Kвалификация «Инженер-физик»

Преподаваемые дисциплины

1. Программно-аппаратное обеспечение персональных компьютеров
2. Физика микроэлектронных структур

Публикационная активность

1
Индекс Хирша (Scopus)

Показаны публикации за последние 3 года

  1. труды конференции РИНЦ УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ДОЗОВЫХ РАДИАЦИОННЫХ ЭФФЕКТОВ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ // Радиационная стойкость электронных систем Стойкость-2023, 2023г. Стр. 55-56
  2. журнал ВАК МОДЕРНИЗИРОВАННАЯ ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ДЛЯ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ РАДИАЦИОННЫХ ЭФФЕКТОВ В ЭЛЕМЕНТАХ ИМС // Датчики и системы, 2023г. Вып. 3 Стр. 4-7 doi
  3. журнал ВАК ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ЭКСПЛУАТАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ К ИОНИЗИРУЮЩЕМУ ИЗЛУЧЕНИЮ // Датчики и системы, 2023г. Вып. 3 Стр. 12-16 doi
  4. журнал ВАК ДВУХПОЛЯРНЫЙ ТРАНСИМПЕДАНСНЫЙ УСИЛИТЕЛЬ ТОКА ДЛЯ СПЕКТРОМЕТРА ИОННОЙ ПОДВИЖНОСТИ // Датчики и системы, 2023г. Вып. 3 Стр. 54-59 doi
  5. труды конференции РИНЦ ОБЗОР ФИЗИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ ЭФФЕКТА НИЗКОЙ ИНТЕНИСВНОСТИ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ БИПОЛЯРНОЙ ТЕХНОЛОГИИ // Современные проблемы физики и технологий, 2023г. Стр. 176-178
  6. журнал ВАК МОДЕЛИРОВАНИЕ ПОСТРАДИАЦИОННОЙ РЕЛАКСАЦИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ИМС БИПОЛЯРНОЙ ТЕХНОЛОГИИ // Датчики и системы, 2021г. Вып. 5 Стр. 69-71 doi
  7. Статья
    Web of Science & Scopus
    Testing for Enhanced Low Dose Rate Sensitivity and Reduced Low Dose Rate Sensitivity Bipolar Devices // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 361-363 doi
  8. Статья
    Web of Science & Scopus
    Technique for Numerical Simulation of Post-irradiation Annealing including Temperature Drift of Electrical Parameters of Devices under Test // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 369-370 doi

Показаны конференции за последние 3 года

Информация о конференциях не найдена

Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»