Бойченко Д.В.

Бойченко Дмитрий Владимирович

Ученая степень: кандидат технических наук

Доцент

Кафедра электроники (3, ИНТЭЛ КАФ.3)
Написать сообщение Весна 2024. Расписание

Владение языками

английский
Работает в МИФИ с 2011 года
Научно-педагогический стаж: 12 лет

Образование

Высшее образование — специалитет, магистратура: Московский инженерно-физический институт. 2002. Специальность «Электроника и автоматика физических установок». Kвалификация «инженер-физик».

Преподаваемые дисциплины

1. Микросистемы
2. Проектирование электронных систем

Публикационная активность

5
Индекс Хирша (Web of Science)
9
Индекс Хирша (Scopus)

Показаны публикации за последние 3 года

  1. Статья
    Web of Science & Scopus
    The 4 Watt UHF VDMOS Power Amplifier for Space Applications // 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2023, 2023 doi
  2. журнал ВАК Прогнозный контроль радиационной стойкости микросхем в серийном производстве II. Выбор объектов испытаний и статистическая обработка результатов контроля // Известия высших учебных заведений. Электроника, 2023г. Т. 28, Вып. 3 Стр. 337-350 doi
  3. Статья
    Издание МИФИ
    ЗАВИСИМОСТЬ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК СИГМА-ДЕЛЬТА АНАЛОГО-ЦИФРОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ОТ ПОГЛОЩЕННОЙ ДОЗЫ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ // Безопасность информационных технологий, 2023г. Т. 30, Вып. 2 Стр. 127-141 doi
  4. журнал ВАК Прогнозный контроль радиационной стойкости микросхем в серийном производстве I. Система и алгоритмы реализации для различных категорий изделий // Известия высших учебных заведений. Электроника, 2023г. Т. 28, Вып. 2 Стр. 189-201 doi
  5. труды конференции РИНЦ Особенности задания требований и оценки стойкости исходных пластин с полупроводниковыми авто- и гетероэпитаксиальными структурами для изделий микроэлетроники // Российский форум «Микроэлектроника 2022», 2022г. Стр. 267-269
  6. Статья
    Web of Science & Scopus
    Providing the Low Temperature of the Heat-Generating Power Devices during the Long-Term Experiment // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, TOP10 pp. 289-292 doi
  7. журнал ВАК Инженерные методы учета низкой интенсивности космического пространства // Наноиндустрия, 2021г. Т. 14, Вып. S7 Стр. 311-313 doi
  8. журнал ВАК Эволюция радиационного поведения субмикроэлектронных устройств при снижении проектных норм и особенности развития инфраструктуры испытаний и исследований // Наноиндустрия, 2021г. Т. 14, Вып. 5 Стр. 298-311 doi
  9. Статья
    Web of Science & Scopus
    Precision Masa Control Based Authentication Methods of Electronic Components to Counterfeit Detection // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 123-125 doi
  10. Статья
    Web of Science & Scopus
    Smart Sub-Microelectronics Radiation Behavior Trends and Test Facilities Evolution // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM, 2021 Vol. 2021-September, Нет pp. 37-44 doi
  11. Статья
    Web of Science & Scopus
    The Optimal Measuring System Composition for the Transceivers Radiation Hardness Investigation // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications, 2021 НЕТ doi
  12. Статья
    Web of Science & Scopus
    Simultaneous Parametric and Functional Testing of Digital VLSI during Radiation Experiments // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications, 2021 НЕТ doi
  13. Статья
    Web of Science & Scopus
    Single Event Burnout Sensitivity Prediction Based on Commercial MOSFET Electrical Characteristics Analysis // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications, 2021 НЕТ doi
  14. Статья
    Web of Science & Scopus
    An Automated System of Lowered Temperature Setting for Long-Term Radiation Experiments // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications, 2021 НЕТ doi

Показаны конференции за последние 3 года

Информация о конференциях не найдена

Согласие на обработку персональных данных получено в соответствии с Федеральным законом от 27.07.2006 № 152-ФЗ «О персональных данных»