Расписание занятий в аудитории 33-304 Корпус 33

12

Понедельник

09:20 — 10:05
Лек
Фундаментальные взаимодействия Б23-402 Львов Д.В.
10:15 — 11:50
Пр
Фундаментальные взаимодействия Б23-402 Львов Д.В.
16:15 — 17:50
Пр
Технология материалов электронной техники Б23-403 Султанов А.О.

Вторник

09:20 — 14:20
Лек
Экспериментальная учебно-исследовательская работа Б22-401 Рындя С.М. (10.02.2026, 17.02.2026)
Лаб
Экспериментальная учебно-исследовательская работа Б22-401 Рындя С.М. (24.02.2026 — 14.04.2026)

Среда

10:15 — 11:50
Пр
Физика полупроводников / Physics of Semiconductors Б23-403 , Б23-433 Никитенко В.Р., Саунина А.Ю.
11:55 — 12:40
Лек
Терагерцовая фотоника М25-413 Клочков А.Н., Шкуринов А.П.
12:45 — 15:15
Пр
Терагерцовая фотоника М25-413 Клочков А.Н., Шкуринов А.П.
16:15 — 19:30
Лек
Физика и технология приборов микро- и наноэлектроники М25-413 Алексеев К.П., Рындя С.М. (11.02.2026, 18.02.2026)
Пр
Физика и технология приборов микро- и наноэлектроники М25-413 Гусев А.С., Рындя С.М. (25.02.2026 — 15.04.2026)
Лаб
Физика и технология приборов микро- и наноэлектроники М25-413 Рындя С.М. (22.04.2026 — 13.05.2026)

Четверг

11:55 — 13:30
Лек
Численные методы и математическое моделирование Б23-402 Масленников А.М.
14:30 — 16:05
Пр
Учебная практика (научно-исследовательская работа, фотоника) Б24-402 Гавриленко Д.В., Гараев Д.И., Львов Д.В., Савченко А.А., Сергеева Д.Ю., Тищенко А.А.

Пятница

10:15 — 11:50
Лек
Технология материалов электронной техники Б23-403 Васильев А.Н., Сигловая Н.В.
12:45 — 14:20
Пр
Интегральные преобразования в математической физике Б23-402 Ионов А.М.
14:30 — 17:50
Лек
Технологические основы фотоники Б22-401 Васильевский И.С. (13.02.2026 — 27.02.2026)
Лаб
Технологические основы фотоники Б22-401 Васильевский И.С., Сибирмовский Ю.Д., Султанов А.О. (06.03.2026 — 10.04.2026)

Суббота

10:15 — 11:50
Лаб
Введение в современные нанотехнологии / Introduction to Modern Nanotechnology Б23-401 Васильевский И.С., Сибирмовский Ю.Д.
12:45 — 16:05
Пр
Учебная практика (научно-исследовательская работа) Б23-433 Васильевский И.С., Гришаков К.С., Рыжук Р.В., Саунина А.Ю.