VNIIA. Exam Schedule Building without number

Fri, 23 Dec, 09:20 — 11:00
Test
Computer Technology M22-601, M22-621 Ignatov D.V. , Kazanbekov S.B. , Kirillova M.D.
Fri, 23 Dec, 11:55 — 13:30
Principles of Complex Technical Systems Design. Standardization and Systems of Quality Assurance. M22-601 Homutovskaya A.V. , Ulyanin O.V.
Fri, 23 Dec, 13:35 — 15:15
Att
Methods of complex technical systems development. Standardization and quality assurance systems. M22-621 Homutovskaya A.V. , Matyushechkin D.S.
Mon, 26 Dec, 10:15 — 11:50
Att
Thermal fields in the device engineering, thermal exposure and testing M21-601, M21-611 Nagatkin A.N. , Sirenko V.S. , Antropov D.S.
Mon, 26 Dec, 15:20 — 17:00
Test
B19-602 Kolesnikov S.V.
Wed, 28 Dec, 08:30 — 10:05
Test
Nuclear physical methods. Physical basis of neutron and x-ray radiography M21-612 Mikerov V.I.
Wed, 28 Dec, 10:15 — 11:50
Att
Registration of Fast Rate Processes M21-612 Krasavina A.A.
Wed, 28 Dec, 11:55 — 13:30
Test
Active neutron methods of materials analysis M21-612 Karetnikov M.D. , Zverev V.I. , Batyaev V.F.
Wed, 28 Dec, 11:55 — 13:30
Att
Materials science and modern technologies in engineering M21-601, M21-611 Nevskiy R.E.
Wed, 28 Dec, 12:45 — 14:20
Test
Academic (Research) Practice: M22-601 Kondratieva L.A. , Maksimkin A.I. , Starodubtseva E.E.
Wed, 28 Dec, 13:35 — 15:15
Att
Microprocessor technology M21-601, M21-611 Kazanbekov S.B. , Benesh P.B.
Wed, 28 Dec, 14:30 — 16:05
Att
Modern Detectors of Nuclear Radiation A20-101, A20-623 Ibragimov R.F. , Ergashev D.E.
Wed, 28 Dec, 18:45 — 20:20
Academic (Research) Practice: M22-621 Starodubtseva E.E. , Kondratieva L.A. , Maksimkin A.I.
Wed, 11 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Materials science and modern technologies in engineering M21-601, M21-611 Nevskiy R.E.
Thu, 12 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Methods of complex technical systems development. Standardization and quality assurance systems. M22-621 Matyushechkin D.S. , Homutovskaya A.V.
Thu, 12 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Modern Detectors of Nuclear Radiation A20-101, A20-623 Ibragimov R.F. , Ergashev D.E.
Wed, 18 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Registration of Fast Rate Processes M21-612 Krasavina A.A.
Wed, 25 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Microprocessor technology M21-601, M21-611 Benesh P.B. , Kazanbekov S.B.
Mon, 30 Jan, 09:00 — 13:00
Exam
Thermal fields in the device engineering, thermal exposure and testing M21-601, M21-611 Antropov D.S. , Sirenko V.S. , Nagatkin A.N.