Department of Electronics (3, Кафедра электроники (№3))
Research engineer
Центр экстремальной прикладной электроники института нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике НИЯУ МИФИ (Центр экстремальной прикладной электроники)
Article
Influence of X-ray Source Spectrum on TID Degradation of CMOS Devices
//
Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), 2022